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LED Sapphire Surfscan
產品名稱: 薄膜厚度量測 承湘科技與工研院量測中心共同合作開發之全新機種薄膜厚度量測。 產品規格: 可應用範圍 1. Semiconductor 2. TFT / Touch panel 3. GaAs 4. LED 5. Solar Oxide,Nitride,Metal,PR,Poly,ITO,Refractive Index & K
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