機器視覺
酸洗槽內晶圓破片監控
智能視覺檢測 - 位移偏差
晶圓視覺辨識系統
新光學量測
晶圓缺陷巨觀檢測 AOI / ADI / AEI
金相顯微鏡
數位顯微鏡
薄膜厚度量測 FilmChek AS150
晶圓表面輪廓儀 OptiProfiler
智慧機器視覺系統
2D_3D Hybrid AOI 晶圓光學檢測設備
顯微鏡維修
晶片承載平台
鼻輪維修 / 交換
半導體中古設備 銷售 / 維修
KLA-Tencor Surfscan
RS75
UV1050
Nikon OST3/ OST5/ NWL/ Optiphot 200
FSM128
LED Sapphire Surfscan
LED Sapphire Surfscan
所有產品
AWL680 / AWL812
酸洗槽內晶圓破片監控
KLA-Tencor Surfscan 6420
藍寶石晶片表面塵粒檢測儀 (LED Sapphire Surfscan)
KLA-Tencor Surfscan 6220
NWL 860
雷射
酸洗槽內晶圓破片監控
2D_3D Hybrid AOI 晶圓光學檢測設備
位移偏差監控
第一頁 | 上一頁 |
1
2
|
下一頁
|
最後頁